電（diàn）工電子產品（pǐn）環境試驗國家相關標準-上海丝瓜视频ios技術部（bù）

電工電（diàn）子（zǐ）產品環境試驗國家相關標準
一、gb/t2423 有以下51個標準（zhǔn）組成： 1 gb/t 2423.1-2001 電工（gōng）電（diàn）子產品環境試驗 第2部分: 試驗（yàn）方法 試（shì）驗a: 低溫

2 gb/t 2423.2-2001 電工（gōng）電子產品環境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗b: 高（gāo）溫（wēn）

3 gb/t 2423.3-1993 電工電子產品基本（běn）環（huán）境試驗規程 試驗ca:恒定濕（shī）熱試驗方法

4 gb/t 2423.4-1993 電工電子產（chǎn）品基本環境試驗規程 試驗（yàn）db: 交變濕熱試驗方（fāng）法

5 gb/t 2423.5-1995 電工電子產品環境試驗 第（dì）二部分：試驗方法 試驗（yàn）ea和導（dǎo）則: 衝擊

6 gb/t 2423.6-1995 電工電子產品環境試驗 第二部分: 試驗方法（fǎ） 試驗eb和導則： 碰撞

7 gb/t 2423.7-1995 電工電子產品環境試驗 第二部分: 試驗方法 試（shì）驗ec和導則: 傾跌（diē）與翻倒 (主（zhǔ）要用於設備型樣品)

8 gb/t 2423.8-1995 電工電子產品環境試驗 第二部分（fèn）: 試驗方法 試驗ed: 自由跌落

9 gb/t 2423.9-2001 電工電子產品環境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗cb: 設備用恒定濕（shī）熱（rè）

10 gb/t 2423.10-1995 電（diàn）工電子產品環境試驗 第二部分: 試驗方法 試驗fc和導則: 振動(正弦)

11 gb/t 2423.11-1997 電工（gōng）電子產品環境試驗（yàn） 第2部分: 試（shì）驗方法 試驗fd: 寬頻帶隨機振動--一般要求

12 gb/t 2423.12-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分: 試驗方法（fǎ） 試驗fda: 寬頻帶隨機振動--高再（zài）現性

13 gb/t 2423.13-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分: 試（shì）驗方（fāng）法 試驗fdb: 寬頻帶隨機振動 中再現性

14 gb/t 2423.14-1997 電工電子產品環境試（shì）驗 第2部分: 試驗方法 試驗fdc: 寬頻帶（dài）隨機振動 低再現性（xìng）

15 gb/t 2423.15-1995 電工電（diàn）子產品環境試驗 第二部分: 試驗方法 試驗（yàn）ga和導則: 穩態加速度

16 gb/t 2423.16-1999 電工電子產品環境（jìng）試（shì）驗 第2部分: 試驗方法 試驗j和導則: 長黴

17 gb/t 2423.17-1993 電工電子產品（pǐn）基本環境試（shì）驗（yàn）規（guī）程 試驗ka: 鹽（yán）霧試驗方法

18 gb/t 2423.18-2000 電工電子產品環（huán）境試驗（yàn） 第二部分: 試驗--試驗kb:鹽霧, 交變(氯化鈉溶液)

19 gb/t 2423.19-1981 電工電子產（chǎn）品基本環境試（shì）驗規程 試驗kc: 接觸點（diǎn）和連接件的二（èr）氧化硫試驗方法

20 gb/t 2423.20-1981 電工電子產品基（jī）本環境（jìng）試驗規程 試驗（yàn）kd: 接觸點和連（lián）接件的（de）硫化氫試驗方法

21 gb/t 2423.21-1991 電（diàn）工電子產品基本環境試驗規程 試驗 m: 低氣壓試驗方法（fǎ）

22 gb/t 2423.22-2002 電工電（diàn）子產品環境（jìng）試（shì）驗 第2部分: 試驗方法 試驗n: 溫度變化

23 gb/t 2423.23-1995 電工電子產品環境試驗 試驗（yàn）q:密封

24 gb/t 2423.24-1995 電工（gōng）電子產品環境試驗 第二部分: 試驗方法 試驗sa: 模擬地麵上的太陽輻射

25 gb/t 2423.25-1992 電工電子產品基本環境試驗（yàn）規程 試驗z/am: 低溫／低氣（qì）壓綜（zōng）合試驗

26 gb/t 2423.26-1992 電工電子（zǐ）產品基本環境試驗規程 試驗z/bm: 高溫（wēn）／低氣壓綜合試驗

27 gb/t 2423.27-1981 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗z/amd:低溫/ 低（dī）氣壓 /濕熱連續綜合試驗方法

28 gb/t 2423.28-1982 電工（gōng）電子產品基本環境試驗規程 試驗t:錫焊試（shì）驗方法

29 gb/t 2423.29-1999 電工電子產品環境試驗 第2部分: 試驗方（fāng）法 試驗u:引（yǐn）出端及整體安裝件強度

30 gb/t 2423.30-1999 電工電子產品環境試驗 第2部分（fèn）: 試驗（yàn）方法 試驗xa和（hé）導則:在清洗劑中浸漬

31 gb/t 2423.31-1985 電工電子產品基（jī）本環境試驗規程 傾斜和搖擺試驗方法

32 gb/t 2423.32-1985 電工電子產品基本環境試驗規程 潤濕稱量法可焊性試驗方法

33 gb/t 2423.33-1989 電工電子產品基本環境試驗規程（chéng） 試驗kca:高濃度二氧化硫試驗方法

34 gb/t 2423.34-1986 電工電子產（chǎn）品基本環境試（shì）驗規程 試驗z/ad: 溫度/ 濕度組合循環試驗方法

35 gb/t 2423.35-1986 電工電子（zǐ）產品基本環境試驗規程 試驗z/afc:散熱和非散熱試（shì）驗樣品的低溫/ 振動(正弦)綜合試驗方法

36 gb/t 2423.36-1986 電工電子產品基（jī）本環境試驗規程 試驗z/bfc:散熱和非散熱樣品的高溫/ 振動(正弦)綜合試驗方（fāng）法

37 gb/t 2423.37-1989 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗 l: 砂塵試驗方法

38 gb/t 2423.38-1990 電工電子產品基本環（huán）境（jìng）試（shì）驗規（guī）程 試驗 r: 水試驗方法

39 gb/t 2423.39-1990 電（diàn）工電（diàn）子產品基本環境試驗規（guī）程（chéng） 試驗ee: 彈跳試驗（yàn）方法

40 gb/t 2423.40-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗（yàn）cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱

41 gb/t 2423.41-1994 電工電子產品基本環境試驗規程 風壓試驗方法

42 gb/t 2423.42-1995 電工電子產品環（huán）境（jìng）試（shì）驗 低溫/低氣壓/振（zhèn）動(正弦)綜合試驗方法

43 gb/t 2423.43-1995 電工電子產品環境試驗 第（dì）二部分: 試驗方（fāng）法 元件、設備（bèi）和其他產品在（zài）衝擊(ea) 、碰撞 (eb) 、振動(fc和（hé）fb)和穩態加（jiā）速度(ca)等動力學試驗中的安裝要求和導則

44 gb/t 2423.44-1995 電工電子產品環境（jìng）試驗 第二部（bù）分: 試驗方法 試驗eg: 撞擊 彈簧錘

45 gb/t 2423.45-1997 電工電（diàn）子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗z/abdm：氣候順序

46 gb/t 2423.46-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗ef：撞擊 擺錘

47 gb/t 2423.47-1997 電工電子產品環境試驗（yàn） 第2部分: 試驗方（fāng）法 試驗fg: 聲振

48 gb/t 2423.48-1997 電工電子產品環境試驗 第（dì）2部分: 試驗方法 試驗ff: 振動--時（shí）間曆程（chéng）法

49 gb/t 2423.49-1997 電工電子產品環境試驗（yàn） 第2部分: 試驗方法 試驗fe: 振動--正弦拍頻法

50 gb/t 2423.50-1999 電工電子產品（pǐn）環（huán）境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗cy:恒定濕熱主要用於元件的加速試（shì）驗

51 gb/t 2423.51-2000 電工電子產品環境試驗 第2部分: 試驗方法（fǎ） 試驗ke: 流（liú）動混合氣體腐蝕試驗

二、gb2421-89 電工電子產品基本環境（jìng）試驗規（guī）程 總則

三、gb/t2422-1995 電（diàn）工電子產品環境試驗 術語

四、gb2424 1.gb2424.1-89 電工電子產品基本環境試驗規程 高溫低溫試驗導則（zé）

2.gb/t2424.2-93電工電子產（chǎn）品基本環境試驗規程 濕熱試驗導則

3.gb/t2424.9-90 電工電子產品基本環境試（shì）驗規程 長黴試（shì）驗導則

4.gb/t2424.10-93 電工電子產品基本環境試驗規程 大氣腐蝕加速試驗的通用導則

5.gb/t2424.11-82 電工電子產品基本環境試驗規（guī）程 接觸（chù）點和鏈接件的二（èr）氧化硫（liú）試驗導則

6.gb/t2424.12-82 電工電子產品基本環境試驗規程 接觸點和連接件的硫化氫試驗導則

7.gb/t2424.13-81 電工（gōng）電子產（chǎn）品基本環境試驗規程 溫度變化試驗導則

8.gb/t2424.14-1995 電工電子產品基本環境試（shì）驗規程 第2部分 ：試（shì）驗方法 太陽輻（fú）射試驗導則

9.gb/t2424.15-92 電（diàn）工電子產品基本環境試驗規程 溫度/低（dī）氣壓綜（zōng）合試（shì）驗導（dǎo）則 10.gb/t2424.17-1995 電工電子（zǐ）產品基本環境試驗規程 錫焊（hàn）試驗（yàn）導（dǎo）則

11.gb/t2424.18-82 電工電子產品基本環境試驗規程 在清洗濟中浸（jìn）漬試驗導則

12.gb/t2424.19-84 電工電子產品基本環（huán）境試驗規程 模擬儲存影響的環境試驗導則

13.gb/t2424.20-85 電工電子產品基本環境試驗規程（chéng） 傾斜（xié）和搖擺試驗導則

14.gb/t2424.21-85電工電子產品基本環境試驗規程（chéng） 潤濕稱量法可焊（hàn）性試驗導則

15.gb/t2424.22-86電工電子產品基本（běn）環（huán）境試驗規程 溫度（低溫、高溫）和振動（正 玄）綜合試驗導則

16.gb/t2424.23-90電工電子（zǐ）產品基本環境試驗規（guī）程 水試驗導則

17.gb/t2424.24-1995 電工電子產品基本環境試驗（yàn）規程 溫度（低溫、高溫）/低氣（qì）壓/振動（正玄）綜合試驗導則