|
|
首頁 > 新聞中心 > 試驗箱GBT2423標準的組成部分（下節）
| 試驗箱GBT2423標準的組成部（bù）分（下節） |
|
| 時間：2013/6/21 8:40:23 |
| |
GB/T 2423.32-2008 電工電子產品環境（jìng）試驗 第2部分：試驗方法（fǎ） 試驗Ta:潤濕稱量法可焊性
GB/T 2423.33-2005 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Kca：高濃（nóng）度二（èr）氧化硫試驗
GB/T 2423.34-2005 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AD：溫度/濕度驗合循環試驗
GB/T 2423.35-2005 電工電子產品（pǐn）環境試（shì）驗 第2部分：試驗方法 試（shì）驗Z/AFc：散熱和非散（sàn）熱試驗樣品的低溫/振動（dòng）（正弦）綜合試驗
GB/T 2423.36-2005 電（diàn）工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BFc：散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動（正弦）綜合試（shì）驗（yàn）
GB/T 2423.37-2006 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗L：沙塵試驗
GB/T 2423.38-2008 電工電子產品（pǐn）環境試驗 第2部分：試驗方法 試（shì）驗R：水試驗方法和導則
GB/T 2423.39-2008 電工（gōng）電（diàn）子產品環境試驗（yàn） 第2部分：試（shì）驗（yàn）方法 試驗Ee:彈跳
GB/T 2423.40-1997 電工（gōng）電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法（fǎ） 試驗（yàn）Cx：未飽（bǎo）和高壓蒸汽恒定濕熱
GB/T 2423.41-1994 電工電（diàn）子產品基（jī）本環境試驗規程 風壓試驗方法
GB/T 2423.42-1995 電（diàn）工電（diàn）子產品環境試（shì）驗 低溫/低氣壓/振（zhèn）動（正弦（xián））綜合試驗方法
GB/T 2423.43-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗（yàn）方法 振動、衝擊和（hé）類似動力學試驗樣品的安裝
GB/T 2423.45-1997 電工（gōng）電子產品環境試驗 第2部分：試驗方（fāng）法 試驗Z/ABDM：氣候（hòu）順序
GB/T 2423.45-1997 電工電子產品環境試（shì）驗 第2部分：試驗方法（fǎ） 試驗Fg:聲振
GB/T 2423.48-2008 電（diàn）工電（diàn）子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ff:振動-時間曆程法
GB/T 2423.49-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試（shì）驗Fe:振動-正弦拍頻法
GB/T 2423.50-1999 電工電子產品環境（jìng）試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cy:恒定濕（shī）熱主要用於元件的加速（sù）試驗
GB/T 2423.51-2000 電工電子產品環境試（shì）驗 第（dì）2部分：試（shì）驗方法 試驗Ke:流動混合氣（qì）候腐蝕試（shì）驗
GB/T 2423.52-2003 電工電子產品環境（jìng）試驗 第2部分：試驗方法 試驗（yàn）77:結構強度與撞擊
GB/T 2423.53-2005 電工電子產品環境試驗（yàn） 第2部分：試驗方法 試驗XB：由手的摩擦造成標記和印（yìn）刷文字的磨損
GB/T 2423.54-2005 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試（shì）驗Xc：液體汙染
GB/T 2423.55-2006 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Eh：錘擊試驗
GB/T 2423.56-2006 電（diàn）工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法（fǎ） 試驗Fh：寬帶隨機振動（數字（zì）控製）和導則
GB/T 2423.57-2008 電工電（diàn）子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ei：衝擊 衝擊響應譜合成
GB/T 2423.101-2008 電工電子產品環境試（shì）驗 第2部分：試驗方法 傾（qīng）斜和搖擺
GB/T 2423.102-2008 電工電子（zǐ）產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合 |
|
| |
 |
相（xiàng）關新聞 |
|
|
|
|
