低溫試驗箱適（shì）用於非散熱和散熱兩類試驗樣品。考核（hé）和確定電工、電子產品在低溫環（huán）境條件下貯（zhù）存和使用的適應性。
低溫試驗方法分為以下三類
非散熱（rè）試驗樣品低溫試驗：--試驗Aa：溫度突變
--試驗Ab：溫（wēn）度漸變
散熱試驗樣品低溫（wēn）試驗：  --試驗Ad：溫度漸變
低溫試驗方法（fǎ）通常用於（yú）條（tiáo）件試驗期間能達到溫度穩定的試驗樣（yàng）品（pǐn）。試驗持續時間是從試驗樣品（pǐn）溫度達到穩定時開（kāi）始（shǐ）計算（suàn）的。在特殊（shū）情況下，如果條（tiáo）件試（shì）驗期間試驗樣品達不到溫度穩定，則試驗持續（xù）時間（jiān）從試驗（yàn）箱達到規定試驗溫度時開始計算。
相關（guān）規範應規定：
a）試驗箱內溫度變化速率；
b）試驗樣品放入試驗箱的時間；
c）試驗樣品在試驗條件（jiàn）下暴（bào）露（lù）試驗開始的時間；
d）試驗樣品通電或加負載的時間。
在這些條件下，相關規（guī）範的製定者可根據GB/T 2424.1-1989導則選定（dìng）以上4個參數（以上條件下的修訂正在考慮之中）