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首頁 > 新聞中心 > 低溫試驗箱標（biāo）準簡述
| 低溫試驗箱標準簡述 |
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| 時間：2013/4/28 7:50:15 |
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由中華人民共和國國家標準出版的電工（gōng）電子產品基本環境試驗規程（chéng）試驗（yàn）A：低溫試驗（yàn）方法（fǎ）（標準號：GB/T2423.1）,此低（dī）溫試驗箱標準等效采用國際標準IEC 68-2-1《基本環境試驗（yàn）規程 試驗A：寒冷》及其第一次補充文件IEC68-2-1A。
標準規定了電工電子產品基本環境試驗規程（chéng）試驗A：低溫試驗方法（fǎ），適用於非散熱和散熱的電工電子產品（包括元件、設備及其他產品）的低溫試驗。
低溫（wēn）試驗箱可模擬各個不同（tóng）階段的寒冷工況，廣泛（fàn）適（shì）用於各（gè）行（háng）各業的產品出廠檢測及市場投放決擇，但本標準（zhǔn）僅限（xiàn）於用來考核或確定電工、電子產品在低溫環境條件下貯存和使用的適應性，而不能用來評價試驗樣品在（zài）溫度變化期間的耐抗性和工作能力，這時應當采用GB2423.22《電工（gōng）電子產品基本環境試驗規程 試驗N：溫度變化試驗方法》即我們在業內常說的溫速快速變化試驗箱（溫度快速變化試驗箱（xiāng）根據試驗要求（qiú）又分（fèn）為線性和非線性），其它行業對此標準中製定的試驗檢測（cè）項目僅以參考為主，本標準規定的（de）試（shì）驗方法通常用在條件試驗期間能達（dá）到溫度穩定的試驗樣（yàng）品，試驗時，是將（jiāng）具有室溫的試驗樣品投入試（shì）驗，當試驗樣品實際上是和（hé）某種特定的安裝架一起使用時，則（zé）試驗時（shí）應應使用這些安裝（zhuāng）架（我們業內稱為“樣品架”，現低（dī）溫試驗箱係（xì）列產品標準的樣品架都是竄孔隔（gé）板式（shì）的，根據用戶被測（cè）樣品的大小可以另（lìng）外定製）。 |
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